SIGMAKOKI/西格瑪光機(jī)自動(dòng)偏光解析系統(tǒng)

基本構(gòu)成例

這里介紹幾種計(jì)測(cè)·解析的典型光學(xué)系統(tǒng)構(gòu)成例。

我們可根據(jù)您的目的或使用要求更改結(jié)構(gòu)和部件的型號(hào)，詳情請(qǐng)*詢。

在光源的后方設(shè)置偏光操作光學(xué)系統(tǒng)，可輸出任意偏光狀態(tài)的光束。

可選擇直線偏光，圓偏光，橢圓偏光以及長短軸比例，轉(zhuǎn)動(dòng)方向等。

可用計(jì)算機(jī)動(dòng)態(tài)控制。便于評(píng)估具有偏光依存性的樣品，或在光路后部進(jìn)行偏光補(bǔ)償。

計(jì)測(cè)和解析入射光束偏光狀態(tài)的裝置。

可求入射偏光的斯托克斯參數(shù)S0?S3。

任意偏光光源，樣品保持機(jī)構(gòu)，偏光測(cè)定裝置的組合，可完成樣品的特性的測(cè)定。

可構(gòu)建透過型或反射型。

反射型即可測(cè)偏光特性，也可用作橢圓偏振光法（Elipsometry）。

可觀測(cè)紋理，加工應(yīng)變等，樣品內(nèi)部的應(yīng)變的裝置。

可把內(nèi)部應(yīng)變的分布和變化錄像。

承接生產(chǎn)設(shè)備或測(cè)定裝置，專用裝置的開發(fā)制造主要部件選用樣本上的標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品，既經(jīng)濟(jì)，又容易保證質(zhì)量和性能。
只需添置一些配合專用設(shè)備的零部件就可完成開發(fā)，效率高，容易實(shí)現(xiàn)個(gè)性化研發(fā)。

采用立式透過光學(xué)系統(tǒng)的偏光光學(xué)件特性評(píng)價(jià)系統(tǒng)

只需把被測(cè)樣品放置到臺(tái)架上就可完成測(cè)定。

可測(cè)定分光相位差，偏光分光特性，透過偏光比等。

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